一個(gè)關(guān)于MultiSIM仿真模擬EFT干擾電路的問題

ID:518902 · 發(fā)表于 2022-4-9 22:11

最近樓主想嘗試模擬EFT干擾,就做了個(gè)最簡(jiǎn)易的電路,結(jié)果一開始仿真就出錯(cuò)
刪掉脈沖電壓源后就可以正常工作了,這是怎么回事呢? 求大佬幫助!

圖片里的脈沖電壓源原來設(shè)定成2kv,也不行

屏幕截圖 2022-04-09 221151.png

ID:96682 · 發(fā)表于 2022-4-10 17:19

上圖單獨(dú)去掉 C4 會(huì)怎樣？

ID:518902 · 發(fā)表于 2022-4-10 21:25

wc86110 發(fā)表于 2022-4-10 17:19
上圖單獨(dú)去掉 C4 會(huì)怎樣？

照樣出錯(cuò)不誤

ID:96682 · 發(fā)表于 2022-4-11 20:17

V2 兩端各串個(gè)電容與 V1 兩端相連，注意挑元器件也是仿真不報(bào)錯(cuò)的關(guān)鍵

ID:123289 · 發(fā)表于 2022-4-12 10:33

測(cè)試通過的指標(biāo)是什么呢？

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